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矿产检测X射线荧光分析法的先容

发布日期:2018-03-28 编辑: 点击:

对样品成份进行矿产检测分析有很多方法,例如,中子活化、原子发射光谱、原子吸取光谱、质谱、极谱以及传统的化学分析方法。那么,你知道X射线荧光分析法有哪些特点呢?下面就让vns6060威尼斯城官网的小编为大家做一下先容:


矿产检测分析


优点:


1.分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。


2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。


3.非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。


4.X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从Na到U。WTH2000型的元素分析范围是Na到U,含量范围为10PPm~100%。因此该法已用于铜合金、镍合金中高含量Cu、Ni的分析。


5.分析精密度高。WTH-2000型的分析精度达0.1%,检出限可达10ppm。


6.制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 


缺点:


1.对轻元素的灵敏度要低一些。


2.难以做绝对矿产检测分析,因此定量分析需要标样。

本文网址:/news/384.html

关键词:矿产检测分析,矿产检测分析法,矿产检测分析中心

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